晶体管检测

在找晶体管检测机构?百检网为您提供晶体管检测服务,专业工程师对接确认项目、标准后制定方案,包括晶体管检测周期、报价、样品等,确认无误后安排寄样检测,晶体管检测常规周期3-15个工作日,欢迎咨询。

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检测样品:纺织品、化妆品、食品、农产品、绝缘工具、五金件等

报告资质:CNAS/CMA/CAL

报告周期:常规3-15个工作日,特殊样品、检测项目除外。

检测费用:根据检测项目收费,详情请咨询百检网。

晶体管检测项目:

发射极-基极击穿电压V(BR)EBO,发射极-基极截止电流IEBO,基极-发射极饱和电压VBEsat,正向电流传输比hFE,集电极-发射极击穿电压V(BR)CEO,集电极-发射极截止电流ICEO,集电极-发射极截止电流ICER,集电极-发射极截止电流ICES,集电极-发射极截止电流ICEX,集电极-发射极饱和电压VCEsat,集电极-基极击穿电压V(BR)CBO,集电极-基极截止电流ICBO,漏源击穿电压,集电极-发射极击穿电压,发射极-基极截至电流IEBO,发射极电流为零时的集电极-基极击穿电压V(BR)CBO,基极-发射极饱和电压VBEsat,常温功率老炼,集电极-发射极截至电流ICEO,集电极-发射极饱和电压VCEsat,集电极-基极截至电流ICBO,高温反偏老炼,基射极电压,射基极关态电流,射基极反向击穿电压,直流增益,稳态热阻,集基极反向击穿电压,集基电极关态电流,集射极反向击穿电压,集射极饱和压降,集射电极关态电流,放大倍数,集电极-发射极饱和电压,放大倍数hFE,集电极-发射极击穿电压V(BR) CEO,密封性检查,恒定加速度,正向电流传输比HFE,温度循环,稳态功率,粒子碰撞噪声检测试验(PIND),高温反偏,高温寿命(非工作),发射极-基极击穿电压V(BR)EBO,发射极-基极截止电流IEBO,基极-发射极饱和电压VBEsat,集电极-发射极击穿电压V(BR)CEO,集电极-发射极饱和电压VCEsat,集电极-基极击穿电压V(BR)CBO,集电极-基极截止电流ICBO,共发射极电流放大倍数,发射极—基极击穿电压,发射极—基极间漏电流,基极—发射极间非饱和压降,基极—发射极饱和压降,集电极—发射极击穿电压,集电极—发射极漏电流,集电极—发射极间饱和压降,集电极—基极击穿电压,集电极—基极反向电流,共发射极正向电流传输比的静态值,发射极-基极击穿电压,发射极-基极截止电流,栅-源截止电压,栅-源阈值电压,漏极电流,集电极-发射极截止电流,集电极-基极击穿电压,集电极-基极截止电流,高温寿命,击穿电压,截止电流,直流放大倍数,饱和压降,基极-发射极饱和电压,共射极正向电流传输比,共发射极正向电流传输比,共射极正向电流传输比(HFE),发射极-基极截止电流(IEBO),基极-发射极饱和电压(VBEsat),晶体管集电极-发射极击穿电压V(BR)CEX,集电极-发射极截止电流(ICEO),集电极-发射极饱和电压(VCEsat),集电极-基极截止电流(ICBO),反向击穿电压,正向电流传输比,集电极-发射极击穿电压V(BR)CEO,集电极-发射极截止电流ICEO,发射极-基极击穿电压V(BR)EBO,集电极-基极击穿电压V(BR)CBO,集电极-基极截止电流ICBO,发射极-基极截止电流IEBO

百检检测流程:

1、电话沟通、确认需求;

2、推荐方案、确认报价;

3、邮寄样品、安排检测;

4、进度跟踪、结果反馈;

5、出具报告、售后服务;

6、如需加急、优先处理;

晶体管检测标准:

1、GB/T 4587-1994 《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管》 GB/T 4587-1994

2、GB/T4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 第Ⅳ章 第5节

3、GB/T 128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法3011

4、GJB 128A-97 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97

5、GJB128A-97 半导体分立器件试验方法 3011

6、MIL-STD-750F:2012 半导体测试方法测试标准 3066.1

7、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法3407

8、MIL-STD- 750F:2012 半导体分立器件试验方法 MIL-STD-750F:2012

9、 GJB128A-1997 GB4587-94 半导体分立器件试验方法半导体分立器件和集成电路.第7部分:双极型晶体管 GJB128A-1997 GB4587-94 4

10、GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法3011

11、GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分 双极型晶体管 第Ⅳ章 第1节10

12、 GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 Ⅳ 2.7

13、GB/T 4587-1994 IV2.2 《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶管》GB/T 4587-1994 IV2.2

14、GJB128A-1997 GB4587-94 半导体分立器件试验方法半导体分立器件和集成电路.第7部分:双极型晶体管 GJB128A-1997 GB4587-94 9.6

15、GJB128A-1997 GB4587-95 半导体分立器件试验方法半导体分立器件和集成电路.第7部分:双极型晶体管 GJB128A-1997 GB4587-95 5

16、GB/T 4587-94 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 第IV通用测试方法和基准测试方法

17、GJB128A—1997 半导体分立器件试验方法 方法1039

18、GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管 Ⅳ1/10

一份检测报告有什么用?

产品检测报告主要反映了产品各项指标是否达到标准中的合格要求,能够为企业产品研发、投标、电商平台上架、商超入驻、学校科研提供客观的参考。

百检第三方机构检测服务包括食品、环境、医疗、建材、电子、化工、汽车、家居、母婴、玩具、箱包、水质、化妆品、纺织品、日化品、农产品等多项领域检测服务,欢迎咨询。